BIENVENUE SCIENCE CONCEPT SEGMENT SPATIAL COMPOSANTE SOL ORGANISATION CONTACTS AUTRES SITES
 
DECLIC 

Modèle d'Ingénierie DECLIC dans un rack inclinable. Panneau avant et connexions similaires à la configuration d'intégration dans un EXPRESS rack.
SEGMENT SPATIAL 

Cliquer ici pour augmenter ou diminuer la taille des caractères : A  A  A  A

 
SEGMENT SPATIAL  

L'instrument DECLIC est composé de 3 éléments découpés en deux "tiroirs" qui peuvent être insérés dans un EXPRESS rack :

    Le premier héberge les diagnostics optiques et l'insert qui sera installé au moyen d'une structure adéquate,
    La partie électronique (acquisition et stockage des données, gestion de l'expérience et alimentation) est hébergé dans un second tiroir.

instrument DECLIC
BOÎTIER EXPERIENCE (EXL)
Architecture EXL : Boîtier de Réception Optique

Le tiroir supérieur est appelé "Experiment Locker" (EXL). Il contient le banc optique DECLIC qui reçoit l'insert de l'expérience dans lequel un matériel scientifique spécial est conditionné. Ce banc optique contient tous les senseurs optiques et opto-électroniques nécessaires pour réaliser les mesures à un faible ou haut débit d'acquisition.

BOÎTIER ELECTRONIQUE (ELL)  

Le tiroir inférieur, appelé "Electronic Locker" (ELL), contient tous les systèmes électriques et électroniques nécessaires pour permettre à l'équipement de fonctionner en mode autonome aussi bien qu'en interaction téléscience avec l'équipe scientifique depuis le Centre Utilisateur.

Ses fonctions principales sont les suivantes :

    Gestion sécurisé des contrôles du système DECLIC ;
    Contrôle de la distribution de l'énergie ;
    Gestion des échanges de données avec la Composante Sol via l'EXPRESS rack (Télémesure/Télécommande) ;
    Gestion de l'execution de l'expérience scientifique ;
    Stockage et acquisition des données et des images ;
    Transmission des données et des images au lien Ethernet ou NSTC ;
    Gestion du panneau frontal.
LES INSERTS

Un insert comprends de l'électronique et un thermostat qui abrite la cellule échantillon (SCU : sample cell unit) également appelé cartouche, contenant le matériau étudié. L'électronique et le thermostat fournissent ensemble l'environnement (température) et les stimuli (trempage, gradient de température, impulsion de chaleur, ...) nécessaires à l'expérience. Dans une première approche, trois insert sont prévus : un insert similaire à celui de l'expérience Alice (Alice like Insert : ALI), un insert haute température (High Temperature Insert : HTI) et un insert de solidification directionnelle (Directional Solidification Insert : DSI). Cet ensemble initial sera complété par de futurs conteneurs d'expérience.

Les inserts et accessoires (jeu de câbles, disques dur extractibles) sont transportés en orbite et redescendus dans un sac de rangement.

Pour réaliser une expérience, l'insert dédié est installé dans l'EXL par l'équipage.

En raison de la limitation de l'espace disponible dans l'insert (environ 200 x 200 x 400 mm), et parce ce que l'environnement thermique ne convient pas à la précision de la mesure, une extension électronique de l'insert est installée dans l'ELL, elle est nommée électronique de régulation centrale.

CARACTERISTIQUES PRINCIPALES  
Observation longitudinale et transversale
Observation directe dans le champ de vue Ø 12 mm - Résolution 10 mm
Mesure de la transmission de la lumière avec ombre de grille pour la turbidité et le gradient d'indice
Mesure de dispersion de la lumière à petits angles
Mesure de dispersion de la lumière à grands angles
Champ de vue microscope 1 mm - Résolution 5 mm
Interférométrie le long de l'axe de croissance - Résolution 16 µm
Mécanismes d'étirement de classe µG : 0,3 à 30 µm / s
Deux caméras haute résolution 1000 x 1000 pixels, 12 Hz
Caméra à grande vitesse1000 x 1000 pixels, 450 Hz
ou 500 x 1000 pixels, 900 Hz
Laser He-Ne - 633 nm
Diodes d'illumination : longueur d'onde 670 nm
Piezo-actionneur
Régulation thermique 1 µk - Stabilité à long terme 5 µk/h (Ambiante à 70°C)
Régulation thermique 1 mk (100°C à 600°C)
Stimuli intérieur des cellules d'échantillon
Eléments Peltier haute et basse température et contrôle des résistances de chauffage.


Dernière mise à jour 12/12/2011